Heimala, P., Aarnio, J., & Tammela, S. (1992). Precision prism coupling setup applied to measure planar silica films on silicon. University of Helsinki, Department of Physics.
Chicago-tyylinen lähdeviittausHeimala, Päivi, Jaakko Aarnio, ja Simo Tammela. Precision Prism Coupling Setup Applied to Measure Planar Silica Films on Silicon. Helsinki: University of Helsinki, Department of Physics, 1992.
MLA-viiteHeimala, Päivi, et al. Precision Prism Coupling Setup Applied to Measure Planar Silica Films on Silicon. University of Helsinki, Department of Physics, 1992.
Harvard-tyylinen lähdeviittausHeimala, P., Aarnio, J. & Tammela, S. 1992. Precision prism coupling setup applied to measure planar silica films on silicon. Helsinki: University of Helsinki, Department of Physics.
Sisältöä ei voida näyttää
Chat-sisältöä ei voida näyttää evästeasetusten vuoksi. Nähdäksesi sisällön sinun tulee sallia evästeasetuksista seuraavat: Chat-palveluiden evästeet.
Evästeasetukset
