Haku

Tietueen sitaatit

APA-viite

Kontio, M. (2002). Reliability testing and handling of semiconductor devices.

Chicago-tyylinen lähdeviittaus

Kontio, Marika. Reliability Testing and Handling of Semiconductor Devices. 2002.

MLA-viite

Kontio, Marika. Reliability Testing and Handling of Semiconductor Devices. 2002.

Harvard-tyylinen lähdeviittaus

Kontio, M. 2002. Reliability testing and handling of semiconductor devices.

Muista tarkistaa viitteiden oikeellisuus, ennen kuin käytät niitä tekstissäsi.
Kysy apua / Ask for help

Sisältöä ei voida näyttää

Chat-sisältöä ei voida näyttää evästeasetusten vuoksi. Nähdäksesi sisällön sinun tulee sallia evästeasetuksista seuraavat: Chat-palveluiden evästeet.

Evästeasetukset