Karilahti, M. (2003). Defect and yield analysis of semiconductor components and integrated circuits. Helsinki University of Technology.
Chicago-tyylinen lähdeviittausKarilahti, Mika. Defect and Yield Analysis of Semiconductor Components and Integrated Circuits. Espoo: Helsinki University of Technology, 2003.
MLA-viiteKarilahti, Mika. Defect and Yield Analysis of Semiconductor Components and Integrated Circuits. Helsinki University of Technology, 2003.
Harvard-tyylinen lähdeviittausKarilahti, M. 2003. Defect and yield analysis of semiconductor components and integrated circuits. Espoo: Helsinki University of Technology.
Sisältöä ei voida näyttää
Chat-sisältöä ei voida näyttää evästeasetusten vuoksi. Nähdäksesi sisällön sinun tulee sallia evästeasetuksista seuraavat: Chat-palveluiden evästeet.
Evästeasetukset
