Sisältöä ei voida näyttää
Chat-sisältöä ei voida näyttää evästeasetusten vuoksi. Nähdäksesi sisällön sinun tulee sallia evästeasetuksista seuraavat: Chat-palveluiden evästeet.
EvästeasetuksetApplied Imagery Pattern Recognition Workshop & IEEE Computer Society. Technical Committee on Pattern Analysis and Machine Intelligence. (2000). Proceedings. IEEE Computer Society.
Chicago-tyylinen lähdeviittausApplied Imagery Pattern Recognition Workshop ja IEEE Computer Society. Technical Committee on Pattern Analysis and Machine Intelligence. Proceedings. Los Alamitos, Calif.: IEEE Computer Society, 2000.
MLA-viiteApplied Imagery Pattern Recognition Workshop ja IEEE Computer Society. Technical Committee on Pattern Analysis and Machine Intelligence. Proceedings. IEEE Computer Society, 2000.
Harvard-tyylinen lähdeviittausApplied Imagery Pattern Recognition Workshop & IEEE Computer Society. Technical Committee on Pattern Analysis and Machine Intelligence. 2000. Proceedings. Los Alamitos, Calif.: IEEE Computer Society.
Sisältöä ei voida näyttää
Chat-sisältöä ei voida näyttää evästeasetusten vuoksi. Nähdäksesi sisällön sinun tulee sallia evästeasetuksista seuraavat: Chat-palveluiden evästeet.
Evästeasetukset