Sisältöä ei voida näyttää
Chat-sisältöä ei voida näyttää evästeasetusten vuoksi. Nähdäksesi sisällön sinun tulee sallia evästeasetuksista seuraavat: Chat-palveluiden evästeet.
EvästeasetuksetInternational Conference on Biometrics & Institute of Electrical and Electronics Engineers, publisher. ... International Conference on Biometrics. IEEE.
Chicago-tyylinen lähdeviittausInternational Conference on Biometrics ja publisher Institute of Electrical and Electronics Engineers. ... International Conference on Biometrics. Piscataway, NJ: IEEE.
MLA-viiteInternational Conference on Biometrics ja publisher Institute of Electrical and Electronics Engineers. ... International Conference on Biometrics. IEEE.
Harvard-tyylinen lähdeviittausInternational Conference on Biometrics & Institute of Electrical and Electronics Engineers, p. ... International Conference on Biometrics. Piscataway, NJ: IEEE.
Sisältöä ei voida näyttää
Chat-sisältöä ei voida näyttää evästeasetusten vuoksi. Nähdäksesi sisällön sinun tulee sallia evästeasetuksista seuraavat: Chat-palveluiden evästeet.
Evästeasetukset