Sisältöä ei voida näyttää
Chat-sisältöä ei voida näyttää evästeasetusten vuoksi. Nähdäksesi sisällön sinun tulee sallia evästeasetuksista seuraavat: Chat-palveluiden evästeet.
EvästeasetuksetEuropean Test Workshop, IEEE Computer Society. Test Technology Technical Committee, & Institute of Electrical and Electronics Engineers. (2003). Proceedings. IEEE Computer Society ; IEEE Service Center.
Chicago-tyylinen lähdeviittausEuropean Test Workshop, IEEE Computer Society. Test Technology Technical Committee, ja Institute of Electrical and Electronics Engineers. Proceedings. Los Alamitos, Calif. : Piscataway, NJ: IEEE Computer Society ; IEEE Service Center, 2003.
MLA-viiteEuropean Test Workshop, et al. Proceedings. IEEE Computer Society ; IEEE Service Center, 2003.
Harvard-tyylinen lähdeviittausEuropean Test Workshop, IEEE Computer Society. Test Technology Technical Committee & Institute of Electrical and Electronics Engineers. 2003. Proceedings. Los Alamitos, Calif. : Piscataway, NJ: IEEE Computer Society ; IEEE Service Center.
Sisältöä ei voida näyttää
Chat-sisältöä ei voida näyttää evästeasetusten vuoksi. Nähdäksesi sisällön sinun tulee sallia evästeasetuksista seuraavat: Chat-palveluiden evästeet.
Evästeasetukset