IEEE International On-Line Testing Symposium, Institute of Electrical and Electronics Engineers, IEEE Computer Society. Technical Council on Test Technology, Design, A., Nebel, W., IEEE Computer Society Content Provider, . . . ACM Special Interest Group on Design Automation Content Provider. (2003). Proceedings. IEEE Computer Society.
Chicago-tyylinen lähdeviittausIEEE International On-Line Testing Symposium, et al. Proceedings. Los Alamitos, Calif.: IEEE Computer Society, 2003.
MLA-viiteIEEE International On-Line Testing Symposium, et al. Proceedings. IEEE Computer Society, 2003.
Harvard-tyylinen lähdeviittausIEEE International On-Line Testing Symposium, Institute of Electrical and Electronics Engineers, IEEE Computer Society. Technical Council on Test Technology, Design, A., Nebel, W., IEEE Computer Society Content Provider, . . . ACM Special Interest Group on Design Automation Content Provider. 2003. Proceedings. Los Alamitos, Calif.: IEEE Computer Society.
Sisältöä ei voida näyttää
Chat-sisältöä ei voida näyttää evästeasetusten vuoksi. Nähdäksesi sisällön sinun tulee sallia evästeasetuksista seuraavat: Chat-palveluiden evästeet.
Evästeasetukset
