Asian Test Symposium, IEEE Computer Society. Test Technology Technical Committee, IEEE Xplore (Online service), IEEE Computer Society Staff Corporate Author, & IEEE, E. D. S. S. C. A. (1992). Proceedings. IEEE Computer Society Press.
Chicago-tyylinen lähdeviittausAsian Test Symposium, IEEE Computer Society. Test Technology Technical Committee, IEEE Xplore (Online service), IEEE Computer Society Staff Corporate Author, ja Electron Devices Society Staff Corporate Author IEEE. Proceedings. Los Alamitos, Calif.: IEEE Computer Society Press, 1992.
MLA-viiteAsian Test Symposium, et al. Proceedings. IEEE Computer Society Press, 1992.
Harvard-tyylinen lähdeviittausAsian Test Symposium, IEEE Computer Society. Test Technology Technical Committee, IEEE Xplore (Online service), IEEE Computer Society Staff Corporate Author & IEEE, E. D. S. S. C. A. 1992. Proceedings. Los Alamitos, Calif.: IEEE Computer Society Press.
Sisältöä ei voida näyttää
Chat-sisältöä ei voida näyttää evästeasetusten vuoksi. Nähdäksesi sisällön sinun tulee sallia evästeasetuksista seuraavat: Chat-palveluiden evästeet.
Evästeasetukset
