Haku

Quantification of bonded Ni atoms for Ni-MoS2 metallic contact through X-ray photoemission electron microscopy

QR-koodi

Quantification of bonded Ni atoms for Ni-MoS2 metallic contact through X-ray photoemission electron microscopy

http://urn.fi/urn:nbn:fi-fe2018082834233
Teksti
Shi, X. (Xinying) ; Huttula, M. (Marko) ; Pankratov, V. (Vladimir) ; Hoszowska, J. (Joanna) ; Dousse, J.-C. (Jean-Claude) ; Zeeshan, F. (Faisal) ; Niu, Y. (Yuran) ; Zakharov, A. (Alexei) ; Huang, Z. (Zhongjia) ; Wang, G. (Gang) ; Posysaev, S. (Sergei) ; Miroshnichenko, O. (Olga) ; Alatalo, M. (Matti) ; Cao, W. (Wei)
Cambridge University Press
Tallennettuna:
Kommentit (0)
MARC

Tämän aineiston tarjoaa

Kysy apua / Ask for help

Sisältöä ei voida näyttää

Chat-sisältöä ei voida näyttää evästeasetusten vuoksi. Nähdäksesi sisällön sinun tulee sallia evästeasetuksista seuraavat: Chat-palveluiden evästeet.

Evästeasetukset